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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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分立器件綜合老化測試系統

符合標準:

MIL-STD-750D、GJB128等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩壓器、光電耦合器、電阻等等元器件的穩態壽命試驗(CFOL)和間歇壽命試驗(IFOL)。

技術特點:

適用范圍廣,可滿足多種分立元器件的常溫壽命老化。

具有手動、自動加電模式。


技術性能

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