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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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二極管間歇壽命老化測試系統

符合標準:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等試驗標準。

適用范圍:

適合各種封裝形式的二極管間歇壽命試驗。

技術特點:

每個回路加熱電流IH、測試電路Im獨立程序控制。

監控每顆器件的△TJ或者TJ。

可兼容穩態壽命和間歇壽命試驗。


技術性能

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