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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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二極管恒流老化測試系統(并聯)

符合標準:

MIL-STD-750D、GJB128等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的中、小功率二極管穩態壽命試驗(CFOL)和間歇壽命試驗(IFOL)。

技術特點:

試驗電流恒定,試驗參數采用電腦程控設定。

一板一區,可滿足多種試驗電流的老化試驗。

每個試驗通道11路恒流電子負載,可并聯增加試驗電流。

可同時滿足穩態(CFOL)和間歇(IFOL)壽命老化試驗。


技術性能

表格 p36.png